ナノ粒子径の測定技法

粒子径が１ミクロン以上の粒子を測定する技法に比べると、小さい粒子径、特に10ナノメートル未満の粒子を測定する方法は少ないです。

動的光散乱（DLS）は別称を光子相関分光法 （PCS）または準弾性光散乱法（QELS）と言い、サンプルの準備が最小で済む、または準備が不要で、溶剤や分散液中で粒子を定期的に高速測定できる唯一の技法です。

DLSには、最小限のサンプル準備を行った後、数秒～数分という短い時間で測定できるという利点があります。

サンプル準備が最小で済む、または不要であるということは、サンプルをそのまま測定するということです。

他の技法で必要な準備では、凝集塊の生成や破壊などのように、粒子の特性が変化することもあります

原子間力顕微鏡法（AFM）
走査型トンネル顕微鏡(STM)などの測定方法では、経験を積んだ技術者がプローブの走査に適した形でサンプルを準備しなければなりません。

この方法では、準備方法に影響を受けない試料しか測定することができません。また、数十、数百という粒子しか測定しないので統計的な観点からは測定の正確さが欠けます。

電子顕微鏡法
これもAFM技法と同じ欠点があります。但し、両技法とも、DLSなどのアンサンブル技法よりも、粒子の形状や表面構造に関する情報が多く取得できます。