Malvern Instruments 粒子特性評価製品は、動的光散乱法およびゼータ電位測定法などの技術を採用しています。
製品ライン

このページは:Home最新情報

マルバーンイベント情報

 

 

 
名称

分析展 2011

日程

2011年9月7日(水)~9月9日(金)

場所

幕張メッセ国際展示場 5ホール 5B-506

展示製品

レーザー回折式粒度分布測定装置
粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置 
高速・比表面積・細孔分布測定装置

 

名称

The 2nd International Symposium on Process Chemistry

日程

2011年8月10日~12日

場所

国立京都国際会館

展示製品

粒子画像分析装置 モフォロギG3
オンライン・インライン粒度分布測定機インシテック
インライン粒子測定プローブParsum
レーザー回折式粒度分布測定装置マスターサイザー2000
(タペストリー)
商品発表 粒子画像分析装置 モフォロギG3

マルバーン製品ユーザー研修情報
ユーザー研修を実施いたします。参加お申し込みご希望の方はウェブサイトからお申し込みください。
お申し込みページ会員登録が必要です。)

 

製品に関するお問合せ:sales.japan@malvern.com
技術・学術に関するお問合せ:support.japan@malvern.com

技術資料やソフトウェアダウンロードなど様々な情報が満載!
ウェブサイト会員登録はこちら

 

 

 

粒子特性評価およびレオロジーの資料について電子メールで同僚の方に通知